Vyanzo vya makosa tuli vyaKuratibu Mashine ya Kupimahasa ni pamoja na: makosa ya Mashine ya Kupima ya Kuratibu yenyewe, kama vile kosa la utaratibu wa kuongoza (mstari wa moja kwa moja, mzunguko), uharibifu wa mfumo wa kuratibu wa kumbukumbu, makosa ya uchunguzi, makosa ya kiasi cha kawaida;kosa linalosababishwa na mambo mbalimbali yanayohusiana na hali ya kipimo, kama vile ushawishi wa mazingira ya kipimo (joto, vumbi, n.k.), ushawishi wa njia ya kipimo na ushawishi wa baadhi ya mambo ya kutokuwa na uhakika, nk.
Vyanzo vya makosa ya mashine ya kupimia ya kuratibu ni ngumu sana kwamba ni ngumu kugundua na kuzitenganisha moja baada ya nyingine na kuzirekebisha, na kwa ujumla ni vile vyanzo vya makosa ambavyo vina ushawishi mkubwa juu ya usahihi wa kuratibu mashine ya kupimia na zile ambazo ni rahisi zaidi. tofauti zinarekebishwa.Kwa sasa, hitilafu iliyofanyiwa utafiti zaidi ni hitilafu ya utaratibu wa kuratibu mashine ya kupimia.CMM nyingi zinazotumiwa katika mazoezi ya uzalishaji ni CMM za mfumo wa kuratibu othogonal, na kwa CMM za jumla, hitilafu ya utaratibu inarejelea hasa hitilafu ya sehemu ya mwendo wa mstari, ikijumuisha hitilafu ya nafasi, hitilafu ya mwendo wa unyoofu, hitilafu ya mwendo wa angular, na hitilafu ya uelekeo.
Ili kutathmini usahihi wakuratibu mashine ya kupimiaau kutekeleza urekebishaji wa makosa, mfano wa kosa la asili la mashine ya kupimia ya kuratibu hutumiwa kama msingi, ambapo ufafanuzi, uchambuzi, upitishaji na makosa ya jumla ya kila kitu cha makosa lazima itolewe.Hitilafu inayojulikana kama jumla, katika uthibitishaji wa usahihi wa CMM, inarejelea kosa la pamoja linaloakisi sifa za usahihi za CMM, yaani, usahihi wa dalili, usahihi wa kurudia, n.k.: katika teknolojia ya urekebishaji makosa ya CMM, inarejelea kosa la vector ya pointi za anga.
Uchambuzi wa makosa ya utaratibu
Tabia za utaratibu wa CMM, reli ya mwongozo inaweka mipaka ya digrii tano za uhuru kwa sehemu inayoongozwa nayo, na mfumo wa kipimo unadhibiti kiwango cha sita cha uhuru katika mwelekeo wa mwendo, kwa hivyo nafasi ya sehemu iliyoongozwa katika nafasi imedhamiriwa na reli ya mwongozo na mfumo wa kipimo ambayo ni yake.
Uchambuzi wa makosa
Kuna aina mbili za vichunguzi vya CMM: vichunguzi vya mawasiliano vimegawanywa katika kategoria mbili: ubadilishaji (pia hujulikana kama kichochezi cha kugusa au uashiriaji unaobadilika) na utambazaji (unaojulikana pia kama kuashiria sawia au tuli) kulingana na muundo wao.Kubadilisha hitilafu za uchunguzi zinazosababishwa na kiharusi cha swichi, uchunguzi wa anisotropi, badilisha mtawanyiko wa kiharusi, weka upya eneo lililokufa, n.k. Hitilafu ya uchunguzi wa kuchanganua iliyosababishwa na nguvu ya uhusiano wa kuhamishwa, kuhamisha uhusiano wa kuhamishwa, uingiliaji wa miunganisho tofauti, nk.
kiharusi byte ya probe kwa probe na workpiece kuwasiliana na nywele probe kusikia, deflection probe ya umbali.Hili ni kosa la mfumo wa uchunguzi.Anisotropy ya probe ni kutofautiana kwa kiharusi cha kubadili kwa pande zote.Ni kosa la kimfumo, lakini kawaida huchukuliwa kama kosa la nasibu.Mtengano wa safari ya swichi inarejelea kiwango cha mtawanyiko wa safari ya swichi wakati wa vipimo vinavyorudiwa.Kipimo halisi kinakokotolewa kama mkengeuko wa kawaida wa swichi ya kusafiri katika mwelekeo mmoja.
Rudisha bendi iliyokufa inahusu kupotoka kwa fimbo ya uchunguzi kutoka kwa nafasi ya usawa, kuondoa nguvu ya nje, fimbo katika chemchemi ya kuweka upya nguvu, lakini kutokana na jukumu la msuguano, fimbo haiwezi kurudi kwenye nafasi ya awali, ni kupotoka kutoka kwa nafasi ya awali ni utepe wa kuweka upya.
Hitilafu iliyounganishwa ya CMM
Hitilafu inayoitwa jamaa iliyounganishwa ni tofauti kati ya thamani iliyopimwa na thamani ya kweli ya umbali wa uhakika hadi hatua katika nafasi ya kipimo ya CMM, ambayo inaweza kuonyeshwa kwa fomula ifuatayo.
Hitilafu iliyounganishwa inayohusiana = thamani ya kipimo cha umbali thamani ya kweli
Kwa kukubalika kwa mgao wa CMM na urekebishaji wa mara kwa mara, si lazima kujua kwa usahihi kosa la kila nukta katika nafasi ya kipimo, lakini tu usahihi wa sehemu ya kazi ya kipimo cha kuratibu, ambayo inaweza kutathminiwa na hitilafu iliyounganishwa ya jamaa ya CMM.
Hitilafu iliyounganishwa ya jamaa haionyeshi moja kwa moja chanzo cha makosa na hitilafu ya mwisho ya kipimo, lakini inaonyesha tu ukubwa wa kosa wakati wa kupima vipimo vinavyohusiana na umbali, na njia ya kipimo ni rahisi kiasi.
Hitilafu ya vekta ya nafasi ya CMM
Hitilafu ya vekta ya nafasi inarejelea hitilafu ya vekta wakati wowote katika nafasi ya kipimo ya CMM.Ni tofauti kati ya sehemu yoyote isiyobadilika katika nafasi ya kipimo katika mfumo bora wa kuratibu wa pembe ya kulia na viwianishi vinavyolingana vya pande tatu katika mfumo halisi wa kuratibu ulioanzishwa na CMM.
Kinadharia, kosa la vekta ya nafasi ni hitilafu ya kina ya vekta iliyopatikana kwa usanisi wa vekta ya makosa yote ya sehemu hiyo ya nafasi.
Usahihi wa kipimo cha CMM ni wa kuhitaji sana, na ina sehemu nyingi na muundo changamano, na mambo mengi yanayoathiri hitilafu ya kipimo.Kuna vyanzo vinne vikuu vya hitilafu tuli katika mashine za mhimili mingi kama CMM kama ifuatavyo.
(1) Hitilafu za kijiometri zinazosababishwa na usahihi mdogo wa sehemu za kimuundo (kama vile miongozo na mifumo ya kupimia).Makosa haya yanatambuliwa na usahihi wa utengenezaji wa sehemu hizi za kimuundo na usahihi wa marekebisho katika ufungaji na matengenezo.
(2) Hitilafu zinazohusiana na ugumu wa kikomo wa sehemu za utaratibu wa CMM.Wao husababishwa hasa na uzito wa sehemu zinazohamia.Makosa haya yanatambuliwa na ugumu wa sehemu za kimuundo, uzito wao na usanidi wao.
(3) Hitilafu za joto, kama vile upanuzi na kupinda kwa mwongozo unaosababishwa na mabadiliko ya joto moja na viwango vya joto.Makosa haya huamuliwa na muundo wa mashine, mali ya nyenzo na usambazaji wa halijoto ya CMM na huathiriwa na vyanzo vya joto vya nje (kwa mfano joto la kawaida) na vyanzo vya joto vya ndani (kwa mfano kitengo cha gari).
(4) makosa ya uchunguzi na nyongeza, haswa ikiwa ni pamoja na mabadiliko katika eneo la mwisho wa uchunguzi unaosababishwa na uingizwaji wa uchunguzi, kuongeza fimbo ndefu, kuongeza vifaa vingine;kosa la anisotropic wakati probe inagusa kipimo katika mwelekeo tofauti na nafasi;kosa lililosababishwa na mzunguko wa jedwali la indexing.
Muda wa kutuma: Nov-17-2022