Vyanzo vya makosa tuli vyaMashine ya Kupima ya Kuratibuhasa ni pamoja na: hitilafu ya Mashine ya Kupima Sahihi yenyewe, kama vile hitilafu ya utaratibu wa kuongoza (mstari ulionyooka, mzunguko), mabadiliko ya mfumo wa kuratibu marejeleo, hitilafu ya probe, hitilafu ya wingi sanifu; hitilafu inayosababishwa na mambo mbalimbali yanayohusiana na hali ya kipimo, kama vile ushawishi wa mazingira ya kipimo (joto, vumbi, n.k.), ushawishi wa mbinu ya kipimo na ushawishi wa baadhi ya mambo yasiyo na uhakika, n.k.
Vyanzo vya makosa vya mashine ya kupimia uratibu ni ngumu sana kiasi kwamba ni vigumu kugundua na kutenganisha kimoja baada ya kingine na kuvirekebisha, na kwa ujumla ni vyanzo vya makosa tu ambavyo vina ushawishi mkubwa juu ya usahihi wa mashine ya kupimia uratibu na vile ambavyo ni rahisi kutenganisha ndivyo vinavyosahihishwa. Kwa sasa, hitilafu iliyofanyiwa utafiti zaidi ni hitilafu ya utaratibu wa mashine ya kupimia uratibu. CMM nyingi zinazotumika katika mazoezi ya uzalishaji ni CMM za mfumo wa uratibu wa orthogonal, na kwa CMM za jumla, hitilafu ya utaratibu inarejelea hasa hitilafu ya sehemu ya mwendo wa mstari, ikiwa ni pamoja na hitilafu ya uwekaji, hitilafu ya mwendo wa unyoofu, hitilafu ya mwendo wa angular, na hitilafu ya uthabiti.
Kutathmini usahihi wamashine ya kupimia ya kuratibuau kutekeleza marekebisho ya makosa, modeli ya kosa la asili la mashine ya kupimia ya kuratibu hutumika kama msingi, ambapo ufafanuzi, uchambuzi, upitishaji na kosa kamili la kila kipengee cha hitilafu lazima itolewe. Hitilafu inayoitwa jumla, katika uthibitishaji wa usahihi wa CMM, inarejelea kosa lililojumuishwa linaloakisi sifa za usahihi wa CMM, yaani, usahihi wa kiashiria, usahihi wa marudio, n.k.: katika teknolojia ya urekebishaji wa makosa ya CMM, inarejelea kosa la vekta la nukta za anga.
Uchambuzi wa hitilafu ya utaratibu
Sifa za utaratibu wa CMM, reli ya mwongozo huweka mipaka ya digrii tano za uhuru kwa sehemu inayoongozwa nayo, na mfumo wa vipimo hudhibiti shahada ya sita ya uhuru katika mwelekeo wa mwendo, kwa hivyo nafasi ya sehemu inayoongozwa angani imedhamiriwa na reli ya mwongozo na mfumo wa vipimo ambao ni wake.
Uchambuzi wa hitilafu za uchunguzi
Kuna aina mbili za probe za CMM: probe za mguso zimegawanywa katika kategoria mbili: kubadili (pia hujulikana kama kichocheo cha kugusa au ishara inayobadilika) na kuchanganua (pia hujulikana kama ishara sawia au tuli) kulingana na muundo wao. Makosa ya kubadili probe yanayosababishwa na kiharusi cha swichi, anisotropi ya probe, utawanyiko wa kiharusi cha swichi, uwekaji upya eneo lililokufa, n.k. Hitilafu ya kuchanganua probe inayosababishwa na uhusiano wa nguvu na uhamishaji, kuhamisha uhusiano wa uhamishaji, kuingiliwa kwa miunganisho mtambuka, n.k.
Kipigo cha ubadilishaji wa probe kwa ajili ya probe na mguso wa kipande cha kazi kwenye usikivu wa nywele za probe, kupotoka kwa probe kwa umbali. Hili ni kosa la mfumo wa probe. Anisotropi ya probe ni kutolingana kwa kipigo cha ubadilishaji katika pande zote. Ni kosa la kimfumo, lakini kwa kawaida huchukuliwa kama kosa la nasibu. Mtengano wa usafiri wa swichi hurejelea kiwango cha mtawanyiko wa usafiri wa swichi wakati wa vipimo vinavyorudiwa. Kipimo halisi huhesabiwa kama kupotoka kwa kawaida kwa usafiri wa swichi katika mwelekeo mmoja.
Uwekaji upya wa mkanda wa kufa unamaanisha kupotoka kwa fimbo ya uchunguzi kutoka kwa nafasi ya usawa, kuondoa nguvu ya nje, fimbo katika chemchemi ya nguvu ya upya, lakini kutokana na jukumu la msuguano, fimbo haiwezi kurudi kwenye nafasi ya awali, ni kupotoka kutoka kwa nafasi ya awali ni mkanda wa kufa upya.
Hitilafu iliyojumuishwa ya CMM
Hitilafu inayoitwa jamaa iliyojumuishwa ni tofauti kati ya thamani iliyopimwa na thamani halisi ya umbali wa nukta hadi nukta katika nafasi ya kipimo ya CMM, ambayo inaweza kuonyeshwa kwa fomula ifuatayo.
Hitilafu iliyojumuishwa kwa kiasi fulani = thamani ya kipimo cha umbali thamani halisi ya umbali
Kwa ajili ya kukubalika kwa mgawo wa CMM na urekebishaji wa mara kwa mara, si lazima kujua kwa usahihi kosa la kila nukta katika nafasi ya kipimo, lakini usahihi wa kipande cha kazi cha kipimo cha uratibu pekee, ambacho kinaweza kutathminiwa kwa kosa lililojumuishwa la CMM.
Hitilafu iliyojumuishwa haionyeshi moja kwa moja chanzo cha hitilafu na hitilafu ya kipimo cha mwisho, lakini inaonyesha tu ukubwa wa hitilafu wakati wa kupima vipimo vinavyohusiana na umbali, na mbinu ya kipimo ni rahisi kiasi.
Hitilafu ya vekta ya nafasi ya CMM
Hitilafu ya vekta ya nafasi hurejelea kosa la vekta wakati wowote katika nafasi ya kipimo ya CMM. Ni tofauti kati ya nukta yoyote isiyobadilika katika nafasi ya kipimo katika mfumo bora wa kuratibu wa pembe ya kulia na viwianishi vya pande tatu vinavyolingana katika mfumo halisi wa kuratibu ulioanzishwa na CMM.
Kinadharia, kosa la vekta ya nafasi ni kosa kamili la vekta linalopatikana kwa usanisi wa vekta wa makosa yote ya sehemu hiyo ya nafasi.
Usahihi wa kipimo cha CMM unahitajika sana, na una sehemu nyingi na muundo tata, na mambo mengi yanayoathiri hitilafu ya kipimo. Kuna vyanzo vinne vikuu vya makosa tuli katika mashine zenye mhimili mingi kama vile CMM kama ifuatavyo.
(1) Makosa ya kijiometri yanayosababishwa na usahihi mdogo wa sehemu za kimuundo (kama vile miongozo na mifumo ya kupimia). Makosa haya huamuliwa na usahihi wa utengenezaji wa sehemu hizi za kimuundo na usahihi wa marekebisho katika usakinishaji na matengenezo.
(2) Makosa yanayohusiana na ugumu mdogo wa sehemu za utaratibu wa CMM. Hasa husababishwa na uzito wa sehemu zinazosogea. Makosa haya huamuliwa na ugumu wa sehemu za kimuundo, uzito wao na usanidi wao.
(3) Makosa ya joto, kama vile upanuzi na kupinda kwa mwongozo unaosababishwa na mabadiliko ya halijoto moja na miteremko ya halijoto. Makosa haya huamuliwa na muundo wa mashine, sifa za nyenzo na usambazaji wa halijoto wa CMM na huathiriwa na vyanzo vya joto vya nje (km halijoto ya mazingira) na vyanzo vya joto vya ndani (km kitengo cha kuendesha).
(4) makosa ya uchunguzi na nyongeza, hasa ikijumuisha mabadiliko katika kipenyo cha mwisho wa uchunguzi yanayosababishwa na uingizwaji wa uchunguzi, kuongezwa kwa fimbo ndefu, kuongezwa kwa vifaa vingine; hitilafu ya anisotropic wakati uchunguzi unagusa kipimo katika pande na nafasi tofauti; hitilafu inayosababishwa na mzunguko wa jedwali la uorodheshaji.
Muda wa chapisho: Novemba-17-2022